Optical Grating Studies in A-As2S3 Films using Scanning Force Microscopy

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URL:	https://ub-madoc.bib.uni-mannheim.de/815
URN:	urn:nbn:de:bsz:180-madoc-8150
Dokumenttyp:	Arbeitspapier
Erscheinungsjahr:	1995
Titel einer Zeitschrift oder einer Reihe:	Technical Reports
Band/Volume:	95-016
Ort der Veröffentlichung:	Mannheim
Sprache der Veröffentlichung:	Englisch
Einrichtung:	Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik > Sonstige - Fakultät für Wirtschaftsinformatik und Wirtschaftsmathematik
MADOC-Schriftenreihe:	Veröffentlichungen der Fakultät für Mathematik und Informatik > Institut für Informatik > Technical Reports
Fachgebiet:	004 Informatik
Normierte Schlagwörter (SWD):	Synthetisches Hologramm , Phasenmessung
Abstract:	For high quality computer generated holograms As2S3-films are used as a real-ime phase recording material . To reach the required quality of optical interconnects it is necessary to expose the exact refractive index change for defined wave front distortions. Different methods were used, as scanning force microscopy (SFM), Mach Zehnder interferometry, confocal laser microscopy and interferometer microscopy to measure the wave front distortion on the pixel level. A computer simulation shows good agreement with the experimental results.