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Resilient Design for Process and Runtime Variations

Firouzi, Farshad

Abstract:

The main objective of this thesis is to tackle the impact of parameter variations in order to improve the chip performance and extend its lifetime.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000048044
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-480440
KITopen-ID: 1000048044
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdaten 12.02.2015
Referent/Betreuer Tahoori, M. B.
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