Abbildende TOF-SIMS und Laser-SNMS nanostrukturierter Oberflächen
Verfasser: | |
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Weitere Beteiligte: | |
FB/Einrichtung: | FB 11: Physik |
Dokumenttypen: | Dissertation/Habilitation |
Medientypen: | Text |
Erscheinungsdatum: | 2001 |
Publikation in MIAMI: | 23.05.2002 |
Datum der letzten Änderung: | 02.12.2015 |
Angaben zur Ausgabe: | [Electronic ed.] |
Schlagwörter: | Nanostruktur; Sekundärionen-Massenspektrometrie; Flugzeitmassenspektrometrie; Oberfläche; Laserionisation |
Fachgebiet (DDC): | 530: Physik |
Lizenz: | InC 1.0 |
Sprache: | Deutsch |
Format: | PDF-Dokument |
URN: | urn:nbn:de:hbz:6-85659551309 |
Permalink: | https://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:hbz:6-85659551309 |
Onlinezugriff: | diss_kamischke.pdf |