Die vorliegende Arbeit ist der experimentellen Untersuchung des Metall-Halbleiter-Phasenübergangs von Samariumsulfid (SmS) gewidmet. Es werden temperatur- und zeitaufgelöste Experimente zur Charakterisierung des Phasenübergangs gemischt-valenter SmS Proben (M-SmS) vorgestellt. Die Messung der Dynamik des laserinduzierten Phasenübergangs erfolgt über zeitaufgelöste Ultrakurzzeit-Mikroskopie und durch Röntgenbeugung mit subpikosekunden Zeitauflösung. Die elektronischen und strukturellen Prozesse, welche einer Anregung von M-SmS mit infraroten Femtosekunden-Laserpulsen folgen, werden auf der Basis der in dieser Arbeit gewonnenen Ergebnisse und Modellvorstellungen physikalisch interpretiert.