Effect of percolation on structural and electrical properties of MIC processed SiGe/Al multilayers
Author: | Marc Erik LindorfORCiDGND, H. Rohrmann, G. Span, Manfred AlbrechtORCiDGND |
---|---|
URN: | urn:nbn:de:bvb:384-opus4-651599 |
Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/65159 |
ISSN: | 0361-5235OPAC |
ISSN: | 1543-186XOPAC |
Parent Title (English): | Journal of Electronic Materials |
Publisher: | Springer |
Place of publication: | Berlin |
Type: | Article |
Language: | English |
Year of first Publication: | 2015 |
Publishing Institution: | Universität Augsburg |
Release Date: | 2019/11/19 |
Tag: | Electrical and Electronic Engineering; Materials Chemistry; Electronic, Optical and Magnetic Materials; Condensed Matter Physics |
Volume: | 45 |
Issue: | 3 |
First Page: | 1730 |
Last Page: | 1733 |
DOI: | https://doi.org/10.1007/s11664-015-4190-x |
Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik IV | |
Dewey Decimal Classification: | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik |
Licence (German): | Deutsches Urheberrecht |