Unravelling concurring degradation mechanisms in InGaAlP light-emitting diode structures by optical overstress experiments under reverse bias
Author: | C. Karl, J. Ebbecke, R. Zeisel, Achim WixforthORCiDGND |
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URN: | urn:nbn:de:bvb:384-opus4-635062 |
Frontdoor URL | https://opus.bibliothek.uni-augsburg.de/opus4/63506 |
ISSN: | 0021-8979OPAC |
ISSN: | 1089-7550OPAC |
Parent Title (English): | Journal of Applied Physics |
Publisher: | AIP Publishing |
Type: | Article |
Language: | English |
Year of first Publication: | 2013 |
Publishing Institution: | Universität Augsburg |
Release Date: | 2020/05/09 |
Volume: | 114 |
Issue: | 22 |
First Page: | 223106 |
DOI: | https://doi.org/10.1063/1.4848035 |
Institutes: | Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik | |
Mathematisch-Naturwissenschaftlich-Technische Fakultät / Institut für Physik / Lehrstuhl für Experimentalphysik I | |
Dewey Decimal Classification: | 5 Naturwissenschaften und Mathematik / 53 Physik / 530 Physik |
Licence (German): | Deutsches Urheberrecht |