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- URN zum Zitieren dieses Dokuments:
- urn:nbn:de:bvb:355-epub-307820
- DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
- 10.5283/epub.30782
Zusammenfassung (Englisch)
Atomic Force MIcrosocpy (AFM) offers the unique possiblity to study conductive as well as insulating surfaces at the atomic scale. While achieving atomic or sub-molecular resolution with low temperature AFM is well established nowadays, the resolution of subatomic features and magnetic exchange interactions remains a challenge. The first part of this work deals with the characterization and ...
Übersetzung der Zusammenfassung (Deutsch)
Die Rasterkraftmikroskopie (RKM) bietet die einzigartige Möglichkeit leitfähige wie auch isolierende Oberflächen auf atomarer Skala zu untersuchen. Das Erreichen von atomaren und submolekularer Auflösung mittels Tieftemperatur-RKM ist zwischenzeitlich kein Problem mehr, jedoch stellt die Auflösung subatomarer Strukturen und von magnetischen Austauschkräften nach wie vor eine Herausforderung dar. ...