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Intermittent breakdown of current-oscillation tori in n-type GaAs epitaxial layers

URN zum Zitieren dieses Dokuments:
urn:nbn:de:bvb:355-epub-169382
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:
10.5283/epub.16938
Margull, U. ; Spangler, J. ; Prettl, Wilhelm
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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 04 Okt 2010 12:18



Zusammenfassung

Self-sustained current oscillations in high-purity n-type GaAs epitaxial layers were investigated for intermittent behavior in the control parameter plane constituted by the constant bias voltage and an external magnetic field. Intermittent windows were observed in a sequence of Hopf bifurcations. Quasiperiodic and frequency-locked oscillations were found to follow an intermittency type-II or ...

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