Nonlinear optical probing of nanocrystalline orientation in epitaxial ferroelectric thin films

URN zum Zitieren dieses Dokuments:: urn:nbn:de:bvb:355-epub-149549
DOI zum Zitieren dieses Dokuments:: 10.5283/epub.14954

Woltersdorf, Georg ; Seifert, G. ; Graener, H. ; Pignolet, A. ; Hesse, D.

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Veröffentlichungsdatum dieses Volltextes: 07 Jun 2010 08:32

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Epitaxially grown ferroelectric BaBi4Ti4O15 thin films were studied by optical second-harmonic (SH) generation using a femtosecond titanium:sapphire laser at 800 nm wavelength. By varying both the incidence and the azimuthal angle and registering the second-harmonic intensity, a significant correlation was found between the azimuthal dependence of the measured SH signal and the ...

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