Eder, Georg; Schlögl, Stefan; Macknapp, Klaus; Heckl, Wolfgang M. und Lackinger, Markus
(1. März 2011):
A combined ion-sputtering and electron-beam annealing device for the in vacuo postpreparation of scanning probes.
In: Review of Scientific Instruments, Bd. 82, 033701
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DOI: 10.1063/1.3556443
Externer Volltext: http://scitation.aip.org/content/aip/journal/rsi/82/3/10.1063/1.3556443
| Dokumententyp: | Zeitschriftenartikel |
|---|---|
| Publikationsform: | Publisher's Version |
| Fakultät: | Geowissenschaften > Department für Geo- und Umweltwissenschaften > Kristallographie und Materialwissenschaft |
| Themengebiete: | 500 Naturwissenschaften und Mathematik > 550 Geowissenschaften, Geologie
500 Naturwissenschaften und Mathematik > 570 Biowissenschaften; Biologie |
| URN: | urn:nbn:de:bvb:19-epub-17387-9 |
| ISSN: | 1089-7623 |
| Allianz-/Nationallizenz: | Dieser Beitrag ist mit Zustimmung des Rechteinhabers aufgrund einer (DFG-geförderten) Allianz- bzw. Nationallizenz frei zugänglich. |
| Sprache: | Englisch |
| Dokumenten ID: | 17387 |
| Datum der Veröffentlichung auf Open Access LMU: | 29. Okt. 2013, 14:31 |
| Letzte Änderungen: | 04. Nov. 2020, 12:59 |
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