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OCM 2019 - 4th International Conference on Optical Characterization of Materials, March 13th – 14th, 2019, Karlsruhe, Germany : Conference Proceedings

Beyerer, Jürgen [Hrsg.]; Puente León, Fernando [Hrsg.]; Längle, Thomas [Hrsg.]

Abstract (englisch):

Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/KSP/1000087509
Veröffentlicht am 15.03.2019
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA)
Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Fakultät für Informatik – Institut für Prozessrechentechnik, Automation und Robotik (IPR)
Publikationstyp Proceedingsband
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0864-9
urn:nbn:de:0072-875094
KITopen-ID: 1000087509
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang VI, 119 S.
Schlagwörter Lebensmittelkontrolle, Spektralsensoren, Spektraldatenverarbeitung; Spektralanwendungen, Recycling,, food inspection, spectral sensors, spectral data processing, spectral applications, recycling and environment
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