Advanced atomic force microscopy techniques II
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2190-4286 urn:nbn:de:swb:90-491874 KITopen-ID: 1000049187 |
| HGF-Programm | 43.12.01 (POF II, LK 01) Tailored properties of nanomaterials |
| Erschienen in | Beilstein journal of nanotechnology |
| Verlag | Beilstein-Institut |
| Band | 5 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 2326-2327 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |