Finite element analysis of V‐shaped cantilevers for atomic force microscopy under normal and lateral force loads
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0142-2421, 1096-9918 urn:nbn:de:swb:90-106060 KITopen-ID: 1000010606 |
| HGF-Programm | 43.01.02 (POF I, LK 01) Strukturierung |
| Erschienen in | Surface and interface analysis |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 38 |
| Heft | 6 |
| Seiten | 1090-1095 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |