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Grain growth behavior and efficient large scale simulations of recrystallization with the phase-field method

Vondrous, Alexander

Abstract:

This book summarizes the found insights of grain growth behavior, of multidimensional decomposition for regular grids to efficiently parallelize computing and how to simulate recrystallization by coupling the finite element method with the phase-field method for microstructure texture analysis. The frame of the book is created by the phase-field method, which is the tool used in this work, to investigate microstructure phenomena.


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DOI: 10.5445/KSP/1000043520
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0280-7
ISSN: 2192-9963
urn:nbn:de:0072-435209
KITopen-ID: 1000043520
HGF-Programm 46.98.30 (POF II, LK 01) PORTFOLIOTHEMEN SUCO
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang VI, 136 S.
Serie Schriftenreihe des Instituts für Angewandte Materialien, Karlsruher Institut für Technologie ; 44
Art der Arbeit Dissertation
Prüfungsdaten 09.07.2014
Schlagwörter Phasenfeld, Kornwachstum, Wachstumsratenverteilung, Parallelisierung, Rekristallisation, Phase-field, Grain growth, Growth rate distributions, Parallelization, Recrystallization
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