Kamerabasierte In-situ-Überwachung gepulster Laserschweißprozesse
Abstract:
Spektrale Analysen liefern Informationen zur Auslegung eines kamerabasierten Überwachungssystems für gepulste Laserschweißprozesse. Aufbauend auf diesen prozessphysikalischen Erkenntnissen wird ein bildbasiertes, schwach-überwacht lernendes Klassifikationssystem zur industriellen Prozessüberwachung anhand der Prozessabstrahlung entwickelt. Der Einsatz einer schmalbandigen Beleuchtung sowie divergenzbasierter Kantendetektionsfilter ermöglicht die Segmentierung der Prozesszonenoberfläche.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2013 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0019-3 ISSN: 2190-6629 urn:nbn:de:0072-345725 KITopen-ID: 1000034572 |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Umfang | X, 260 S. |
| Serie | Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie ; 6 |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Institut | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Prüfungsdaten | 21.03.2013 |
| Schlagwörter | Laserstrahlschweißen, Prozessüberwachung, Spektroskopie, Klassifikation, divergenzbasierte Kantendetektion |
| Referent/Betreuer | León, F. Puente |