KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Herstellung dünner metallischer Brücken durch Elektromigration und Charakterisierung mit Rastersondentechniken

Stöffler, Dominik

Abstract:

In der vorliegenden Arbeit werden metallische Kontakte durch Elektronenstrahllithografie oder Bedampfen durch eine Maske sowie kontrollierte Elektromigration im Ultrahochvakuum hergestellt und mittels Rastersondentechniken charakterisiert. Aus den Rastersondenbildern lassen sich in Verbindung mit den Elektromigrationsdaten Rückschlüsse auf die Entstehung der Morphologie des erzeugten Kontakts ziehen.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000027524
Die gedruckte Version dieser Publikation können Sie hier kaufen.
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-843-8
ISSN: 2191-9925
urn:nbn:de:0072-275246
KITopen-ID: 1000027524
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang IV, 98 S.
Serie Experimental Condensed Matter Physics / Karlsruher Institut für Technologie, Physikalisches Institut ; 5
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Physikalisches Institut (PHI)
Prüfungsdaten 09.02.2012
Schlagwörter Elektromigration, Rastersondenmikroskopie, Nanostrukturen, Maskenbedampfung, Elektronenstrahllithografie
Relationen in KITopen
Referent/Betreuer Löhneysen, H. von
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page