Elektrische Charakterisierung und Modellierung von metallischen Interkonnektoren (MIC) des SOFC-Stacks
Abstract:
In dieser Arbeit wurde der Effekt des metallischen Interkonnektors (MIC) auf die Leistungsdichte der anodengestützten Zelle (ASC) sowie die Wechselwirkung zwischen dem MIC und der Kathode (Cr-Vergiftung) untersucht. Durch die Separation der Elektrodenverluste wurden drei von der Geometrie verursachte Verluste identifiziert und quantifiziert. Weiter konnte gezeigt werden, dass in Anwesenheit des MIC eine starke Degradation der Zellleistung durch Cr-Vergiftung der Kathoden-Elektrochemie stattfand.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2012 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-86644-833-9 ISSN: 1868-1603 urn:nbn:de:0072-271707 KITopen-ID: 1000027170 |
| Verlag | KIT Scientific Publishing |
| Umfang | V, 166 S. |
| Serie | Schriften des Instituts für Werkstoffe der Elektrotechnik, Karlsruher Institut für Technologie / Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik ; 22 |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Institut | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE) |
| Prüfungsdaten | 02.02.2012 |
| Schlagwörter | Cr-Vergiftung, metallischer Interkonnektor (MIC), anodengestützte Zelle (ASC), Hochtemperatur Brennstoffzelle (SOFC), APU Stack |
| Referent/Betreuer | Ivers-Tiffée, E. |