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Integrierte Lagesensorik für ein adaptives mikrooptisches Ablenksystem

Auernhammer, Daniel

Abstract:

In einem mikrooptischen Ablenksystem sollen die sensorischen Eigenschaften der ferromagnetischen Formgedächtnislegierung Ni-Mn-Ga untersucht werden. Dabei kommt ein elektro-thermisch aktivierbarer, durch einen Permanentmagneten vorausgelenkter Dünnfilm-Biegeaktor zur Strahlablenkung zum Einsatz. Die Untersuchung der Eignung des magnetoresistiven Materials zur Positionsermittlung ist Ziel dieser Arbeit. Zur vergleichenden Bewertung werden kapazitive und resistive Referenzsensoren herangezogen.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000027008
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2012
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-829-2
ISSN: 1869-5183
urn:nbn:de:0072-270088
KITopen-ID: 1000027008
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang VI, 132 S.
Serie Schriften des Instituts für Mikrostrukturtechnik am Karlsruher Institut für Technologie / Hrsg.: Institut für Mikrostrukturtechnik ; 11
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Prüfungsdaten 28.06.2011
Schlagwörter Mikrosystemtechnik; Ablenksystem; Positionsermittlung; Ni-Mn-Ga; Ferromagnetische Formgedächtnislegierung
Relationen in KITopen
Referent/Betreuer Saile, V.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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