Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2011 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | ISBN: 978-3-86644-687-8 ISSN: 1866-5934 urn:nbn:de:0072-232878 KITopen-ID: 1000023287 |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Umfang | XI, 262 S. |
Serie | Schriftenreihe Automatische Sichtprüfung und Bildverarbeitung ; 3 |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Informatik (INFORMATIK) |
Institut | Fakultät für Informatik – Institut für Anthropomatik (IFA) |
Prüfungsdaten | 21.01.2011 |
Schlagwörter | Deflektometrie, spiegelnde Oberflächen, Sichtprüfung, Oberflächenrekonstruktion, Normalenfeld |
Relationen in KITopen | |
Referent/Betreuer | Beyerer, J. |